原子力显微镜报价,原子力显微镜生产厂家

• 小型化及可拆卸化设计，非常便于携带及教学
• 激光检测头和样品扫描台集成一体，结构非常稳定，抗干扰性强
• 精密探针定位装置，激光光斑对准调节非常简便
• 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描
• 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品
• 自动光学定位，无需调焦，实时观测与定位探针样品扫描区域
• 弹簧悬挂式防震方式，简单实用，防震效果好
• 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%

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• 光学金相显微镜和原子力显微镜一体化设计，功能强大
• 同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响
• 可同时在普通空气环境、液体环境、温度控制环境、惰性气体控制环境下工作
• 样品扫描台和激光检测头封闭式设计，内部可充放特殊气体，无需增加密封罩
• 激光检测采用了垂直光路设计，配合气液两用型探针架可在液体下工作
• 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描
• 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品
• 超高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位
• 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%

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AFM-T教学型原子力显微镜采用小型化及可拆卸化设计，方便携带及教学， 激光检测头和样品扫描台集成一体，稳定可靠；精密激光及探针定位装置，更换探针及调节光斑简单方便；

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AFM-O光学原子力显微镜一体机采用光学显微镜和原子力显微镜一体式设计，光电控制一体化；同时具备光学和原子力显微镜成像功能，两者可同时扫描成像，互不影响；同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能；

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AFM-IN工业型原子力显微镜系国内首先实现样品保持不动，探针移动扫描的原子力显微镜，采用闭环三轴独立压电平移式扫描器，大范围高精确度扫描，适合样品尺寸、重量基本不受限制，特别适合集成电路晶圆等超大样品检测。

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• 光机电算一体化设计
• 内置复消色差光学系统，同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑
• 不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据，原位检测样品的各种形貌信息与化学信息，这样就确保了数据的一致性
• 高通量的光信号收集和检测硬件保证采集每一点的信号和拉曼光谱
• 扫描探头和激光耦合器集成一体，悬挂式防震，抗干扰能力强

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• 光机电一体化设计，外形结构简单；
• 扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强；
• 精密激光及探针定位装置，更换探针及调节光斑简单方便；
• 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；
• 马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；
• 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；
• 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择；
• 采用10X复消色差物镜CCD光学定位系统，实时观测与定位探针样品扫描区域；
• 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；
• 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。主要技术指标

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•  扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强；
•  精密激光及探针定位装置，更换探针及调节光斑简单方便；
•  采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；
•  马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；
•  高精度样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；
•  带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针样品扫描区域；
•  模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；
•  集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用；
•  弹簧悬挂式防震方式，简单实用，抗干扰能力强。

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